試料前処理・作成装置

	製品名	クロスセクションポリッシャ
	メーカー	日本電子
	説明文	Ar+イオンビームと遮蔽(しゃへい)板を用いて試料の断面を加工し、電子顕微鏡などの表面分析用試料作成装置です。

	製品名	集束イオンビーム
	メーカー	日本電子、日立ハイテク
	説明文	集束したイオンビーム(Ga)を資料にあて、ナノ領域で表面加工が可能な装置です。

	製品名	切断・研磨
	メーカー	マルトー、丸本ストルアス、リファインテック
	説明文	観察用試料作成用、切断・研磨機・包埋樹脂ほか消耗品です。