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新製品情報
IMV株式会社【NEW!】
日本高度信頼性評価試験センター開所!日本が誇る信頼性評価技術の粋を結集!大型e-モビリティ部品の信頼性評価試験対応。(リーフレット)

テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社
適用期間:2019年1月15日(火)〜3月29日(金)ご発注分オシロスコープ中古販売台数限定!(中古販売キャンペーン)(整備済み再生品チラシ)
旧タイプまたは、現行タイプの中古オシロスコープ(再生品)が50%〜63%オフとさらにお安くなっています。オシロスコープ本体の保証期間は新品と同様の3年間です。この機会に、既存ユーザー様は勿論、新規のお客様にも積極的にキャンペーンをご紹介頂きます様、宜しくお願い申し上げます。

株式会社 小野測器
レーザ面内速度計 LV-7000 シリーズ販売開始!
非接触で伝導ベルトやプーリーなど伝導機器の速度や走行距離、紙やフィルムなどライン生産品の速度や長さを検出できる、レーザ面内速度計 LV-7000シリーズを開発。

最新ニュース
新製品情報
日本電子株式会社【NEW!】
新型走査電子顕微鏡JCM販売のお知らせ ―品質管理・異物解析・元素分析―
JEOLの新しい卓上走査電子顕微鏡。
ブルカージャパン株式会社
卓上型X線回折装置 販売キャンペーン
 ご好評を頂いております、世界最速の卓上型X線回折装置D2 PHASER 2nd Generationの販売キャンペーンを期間限定でご案内致します。 大学・官公庁のお客様のみならず、民間企業のお客様にもご案内しております。キャンペーン期間は、2019年3月31日までとなります。是非、このチャンスをお見逃しなく!

株式会社日立ハイテクサイエンス
フタル酸エステル類のスクリーニング検査装置を発売
 RoHS指令の改正に伴い、2019年7月から、絶縁被覆材や電気絶縁テープ、包装用フィルムなどに使用されている4種類のフタル酸エステルが規制対象物質に加わります。
 本装置は、フタル酸エステル類の迅速なスクリーニング検査を生産現場で簡単に行うための専用機です。操作性の良さに加え、約8時間で50個の自動測定という高スループットな検査を実現しています。
日本電子株式会社
新型走査電子顕微鏡JSM-IT500シリーズ InTouchScope を販売開始 ―毎日の分析業務をさらに早く!より楽に!―
JSM-IT500 は JEOL InTouchScope シリーズのニューモデルです。視野セットからレポート作成まで、分析業務のためのソフトが一つになって作業スピードがアップ!できます。
日本電子株式会社
新型走査電子顕微鏡JSM-IT300HRを販売開始 ― 新開発の高輝度電子銃とレンズ系による高性能SEM ―
日本電子株式会社は、この度、新開発の高輝度電子銃とレンズ系を搭載することで、高画質観察やサブミクロン領域の元素分析データをより容易に取得できる新型走査電子顕微鏡JSM-IT300HRを開発し、販売を開始しました。
株式会社日立ハイテクサイエンス
走査型プローブ顕微鏡システム「AFM5500M」を発売−計測精度と操作性を大幅に向上し、ナノ領域の研究開発から品質管理などの工業計測に対応−
5新開発のスキャナや低ノイズ3軸センサなどにより高い計測精度を実現するとともに、カンチレバー交換や光軸調整を自動化するなど、操作性を大幅に向上させることで、オペレーターの負担を軽減します。これにより従来多く利用されていた研究開発用途だけでなく、ますます微細化が進む生産現場での品質管理など工業計測用途での利用も可能です。仕様などご不明な点がございましたら弊社へご相談下さい。

日本電子株式会社
新型走査電子顕微鏡JSM-IT100 InTouchScope を販売開始 - コンパクトでありながらも多機能なSEM -
JSM-IT100は、従来機種「JSM-6510、JSM-6010Plus InTouchScope」よりも設置面積を約30%削減して設置場所の自由度を高くし、卓上走査電子顕微鏡並のスペースに設置することが可能となりました。◆本装置に関するご質問などございましたら弊社へご連絡ください。

株式会社日立ハイテクサイエンス
走査型微小粗さ・形状および膜厚の三次元測定を非接触・非破壊で行う走査型白色干渉顕微鏡*1「VS1000シリーズ」4モデル(VS1550、VS1540、VS1530、VS1330)を日本国内で発売しました。従来多く利用されている触針式粗さ計・段差計に比べ非接触で高速かつ容易に三次元の粗さ・形状の測定が行えるとともに、透明な多層構造フィルムの膜厚測定も可能です。

株式会社日立ハイテクサイエンス
プローブ顕微鏡用新型ステーション
プローブステーション「AFM5000II」は、進化した測定パラメーター自動調整機能RealTuneIIを標準搭載するとともに、分かりやすさを追求したGUIに一新しました。 これによりSPM初心者、また初めて測定する試料でも、再現性の高いデータが取得できます。
AFM5100N/5200Sユニット用  500万円〜
AFM5300Eユニット用 800万円〜
(ディスプレイと設置台は別売りです)

株式会社日立ハイテクサイエンス
高精度大型SPM「AFM5400L」スペシャルコンテンツ掲載
AFM5400Lは、高精度な形状計測性能に加え、電動ステージを持ちカンチレバーの自動交換や複数飲料の自動測定など、操作性に優れた大型SPMユニットについて紹介します。
さらに、SPMと白色干渉計の機能を複合化させることで、1mm程度の広視野範囲から数nmレベルの狭視野範囲までを、高さ方向分解能0.01nmという高分解能で、シームレスに測定することを可能としました。

ブルカー・エイエックスエス株式会社
最新X線回折装置(XRD) D8 ADVANCE ECO をリリースしました。
株式会社堀場製作所
粒度分布測定装置LA-950 データ相関ソフトウェアがリリース
粒度分布は相関の取りにくい装置ですが、この度LA-950のオプションとしてLA-920と相関の取れるオプションソフトがリリースされました。
日本電子株式会社
卓上型電子顕微鏡 NewNeoScope6000 を発売いたします。二次電子像/反射電子像 EDS装着可能
エスアイアイナノテクノロジー
加工スピード、加工精度、観察精度を向上した集束イオンビーム装置 集束イオンビーム装置 SMI4050
ブルカーエイエックスエス
調整不要・光学系自動認識を搭載した真の多機能・高機能X線回折装置 New D8 DISCOVER
日本電子
マルチタッチパネルで直感的に操作できるモバイル SEM InTouchScope JSM-6010LA 分析走査電子顕微鏡
エリオニクス
大電流微細電子ビームによる微小領域の溶融加工装置! '電子ビームナノ融解装置 ENF-3500'
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キヤノンアネルバ
コンパクト型ガス分析装置
インプロセスのガス分析装置がお安くご提供できるようになりました。
エドワーズ
ドライポンプiXH500H
キヤノンアネルバ
イオンゲージ M-311HG
キヤノンアネルバ
四重極型質量分析計 M-070QA-TDF
キヤノンアネルバ
四重極型質量分析計 M-401QA
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